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首页 临床进展 多次全麻手术暴露对婴幼儿脑电特征的影响

【ChiCTR2600125616】多次全麻手术暴露对婴幼儿脑电特征的影响

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基本信息
登记号

ChiCTR2600125616

试验状态

尚未开始

药物名称

/

药物类型

/

规范名称

/

首次公示信息日的期

2026-05-28

临床申请受理号

/

靶点

/

适应症

无

试验通俗题目

多次全麻手术暴露对婴幼儿脑电特征的影响

试验专业题目

多次全麻手术暴露对婴幼儿脑电特征的影响

申办单位信息
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临床试验信息
试验目的

评估多次全麻手术暴露（累计全麻手术次数≥5次）是否与6–36个月婴幼儿清醒状态下脑电功率谱特征改变相关

试验分类
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试验类型

横断面

试验分期

其它

随机化

无

盲法

无

试验项目经费来源

首都医科大学附属北京儿童医院科研专项

试验范围

/

目标入组人数

67

实际入组人数

/

第一例入组时间

2026-06-01

试验终止时间

2029-03-01

是否属于一致性

/

入选标准

1.年龄6个月至36个月； 2.ASA分级I–II级； 3.研究当天临床情况稳定，无急性感染、发热等不适于脑电采集的情况； 4.研究参与者监护人已充分了解本研究目的、过程及风险，并签署书面知情同意书； 1.年龄6个月至36个月；2.ASA分级I–II级；3.研究当天临床情况稳定，无急性感染、发热等不适于脑电采集的情况；4.研究参与者监护人已充分了解本研究目的、过程及风险，并签署书面知情同意书；；

排除标准

1.已确诊癫痫或存在活动性癫痫发作史； 2.明确中枢神经系统结构异常或遗传代谢性疾病； 3.已明确诊断的神经发育障碍，如明显发育迟缓、自闭谱系障碍等； 4.不能配合完成EEG监测，或采集后脑电数据质量不佳，无法进行有效分析；；

研究者信息
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试验机构

首都医科大学附属北京儿童医院

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